雷達(dá)液位計 是通過向被測介質(zhì)發(fā)射電磁波，發(fā)射后的電磁波遇到介質(zhì)被反射回來，通過時間擴(kuò)展技術(shù)原理，計算出電磁波發(fā)射和接收的時間間隔，從而進(jìn)一步推算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。可見，雷達(dá)液位計能否順利發(fā)射出電信號對于液位測量就顯得頗為關(guān)鍵。但在我們?nèi)粘９ぷ髦校盘柋桓蓴_的現(xiàn)象時有發(fā)生。那么，導(dǎo)致雷達(dá)液位計信號異常的干擾因素都有哪些呢？

    通過對導(dǎo)致雷達(dá)液位計的信號異常的因素進(jìn)行分析發(fā)現(xiàn)，產(chǎn)生干擾的原因有很多，干擾源也多種多樣。但總體而言可以分為兩類：一類是內(nèi)部干擾，另一類是外部干擾。

    一、外部干擾

    1、天體、天電干擾

    天體就是指太陽或是其他的恒星，因此天體干擾指的就是它們發(fā)出的電磁波對雷達(dá)液位計發(fā)出的信號產(chǎn)生了一定的干擾。

    但對于天電這個術(shù)語，大家普遍感到陌生。其實，所謂天電，可以將其理解為由大氣、雷電等電離作用，或是火山、地震等自然現(xiàn)象產(chǎn)生的電磁波對雷達(dá)液位計的信號產(chǎn)生的干擾。

    2、光干擾

    光的干擾主要在于半導(dǎo)體部件。在用來控制儀表的部件當(dāng)中，多由半導(dǎo)體材料制成，而半導(dǎo)體元件在受到光的影響后，其導(dǎo)電性能就會改變，這樣一來，就會影響雷達(dá)液位計的正常使用。

    3、熱干擾

    火電廠作業(yè)過程中，其熱力設(shè)備會產(chǎn)生大量的熱量，這些熱量會引起周圍儀器以及環(huán)境溫度的變化，這也就是我們所說的熱干擾。這些干擾會對雷達(dá)液位計的元件產(chǎn)生影響，進(jìn)一步導(dǎo)致測量不精確等問題的出現(xiàn)。

    4、濕度干擾

    當(dāng)濕度升高，就會引起絕緣體電阻下降、電介質(zhì)介電數(shù)增加、骨架蓬松、電阻增加，進(jìn)而也就產(chǎn)生漏電流增加、電容量增加、電感器變化等。此外還會使膠質(zhì)變軟，測量精也會下降。

    5、機(jī)械干擾

    所謂機(jī)械干擾，是指由于外部機(jī)器的大幅震動或沖擊，影響到雷達(dá)液位計，使雷達(dá)液位計內(nèi)部的一些元件同樣發(fā)生震動甚至是移位、變形，也可能使儀表頭指針?biāo)蓜?，使測量產(chǎn)生誤差，對于這種情況我們通常加以隔板、減震彈簧等來緩解沖擊。

    6、化學(xué)干擾

    化學(xué)干擾通常是指一些具有腐蝕性的氣體，例如酸、堿等，這些氣體長時間的作用，不僅僅會損壞儀器及內(nèi)部元件，還會與金屬作用導(dǎo)電，影響雷達(dá)液位計的正常工作。

    二、內(nèi)部干擾

    干擾不僅僅來自于外部，也來自于雷達(dá)液位計內(nèi)部。例如其中的導(dǎo)線、電源變壓器電子元件之間的電感、電容等所產(chǎn)生的干擾，此外，內(nèi)部元件還會產(chǎn)生噪聲干擾。如今，大部分的雷達(dá)液位計經(jīng)改進(jìn)后，由于采用了高頻率微波技術(shù)，使液位計的性能大為改善，干擾也隨之降低。